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SM-114日本得乐测厚规

描述:SM-114测厚规
品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围:0-10mm
Z小读数:0.01mm
测量深度:120mm

更新时间:2023-09-17
产品型号:
厂商性质:生产厂家
详情介绍

 

SM-114测厚规
品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围:0-10mm
zui小读数:0.01mm
测量深度:120mm
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
zui小读数:0.01mm
测量深度:120mm
体积大小:(W*D*H)190*23*145mm
重量:250g
 
测厚仪系列:
英国牛津 CMI 233测厚仪
英国牛津 CMI153 便携式涂镀层测厚仪
北京时代TT210数字式涂层测厚仪
北京时代TT220数字式涂层测厚仪
TT230数字式涂层测厚仪
日本得乐测厚规
国产测厚规
国产数显测厚规
:李
http://www.yuanqi17.com/
litianbao320
 
 
 

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